Diskussion:Rastersondenmikroskopie
Meines wissens nach gibt es KEINE Rastersondenmikroskope, die einen Laser bzw Elekrtonen strahl als Sonde benutzen, da es sich um eine Nahfeldwirkung handelt wären Laser und elektronen auch nicht nutzbar....
Ich schließe mich dieser Meinung im Prinzip an. Als weiteres Kriterium für die Rastersondenmikroskopie würde ich noch die mechanische Verschiebung der Sonde zu der Probe während des Rastervorgangs anführen, was das Rasterelektronenmikroskop (REM) auch ausschließen würde. Außerdem zählt man das REM im normalen Sprachgebrauch sicher nicht zu den Rastersondenmikroskopen. --91.12.73.217 11:10, 19. Apr. 2007 (CEST)
Der Kommentar zum Raster-Transmissionselektronenmikroskop ist nicht richtig, die transmitierten Elektronen werden mit einen Detektor ohne Ortsauflösung gemessen. Die Ortsauflösung erhält man nur aus der Strahlposition. Trotzdem kein Rastersondenmikroskop. --91.12.73.217 11:20, 19. Apr. 2007 (CEST)
Die beiden Kommentare oben sind völlig richtig. Ein REM (Rasterelektronenmikroskop) ist etwas ganz anderes als ein SPM. Ein REM funktioniert im Prinzip genau gleich wie ein Lichtmikroskop, nur dass an Stelle von Lichtwellen kurzwelligere Elektronenwellen benutzt werden und an Stelle von optischen Linsen werden Magnetlinsen verwendet. Das Auflösungsvermögen des REM ist somit wie beim LM durch die Wellenlänge determiniert. Genau diese Einschränkung umgeht das SPM.
Da die beiden Einträge schon 2 Jahre alt sind und seither niemand dagegen aufbegehrt hat, ändere ich den Artikel entsprechend ab.
Weitere Punkte, die ich korrigiere: Eine Sonde muss nicht nanoskopisch sein, um Nanostrukturen abtasten zu können. Das ist ja gerade das Verblüffende am SPM. Massstäblich übersetzt nimmt man eine Spitze, die der Grösse des Matterhorns entspricht, um damit Atome in der Grösse von Ping-Pong Bällen abzutasten.
--Titeuf24 18:48, 4. Jul. 2009 (CEST)
Hättest Du TEM geschrieben, würde ich Dir bezüglich des abbildenden Verfahrens zustimmen. Beim REM dagegen wird der Elektronenstrahl im Gegensatz zum Licht in einem Lichtmikroskop auf die Probe fokussiert. Auch wenn die Verwendung von Linsen den prinzipiellen Aufbau dem eines LM ähnlich macht, wird die Probenoberfläche abgerastert um ihre Topographie aufzunehmen, meist indem die Probe verfahren wird. Dabei stellt der fokussierte Elektronenstrahl im Prinzip die Sonde dar. Natürlich spielt bei den die Auflösung begrenzenden Faktoren die Wellenlänge der Elektronen durchaus eine Rolle. Letztlich ist es aber die Größe der Sonden"spitze", in diesem Fall die Fläche der Strahltaille, die die laterale Auflösung bestimmt. Da jede SPM-Abbildung immer eine Faltung von Proben- und Spitzengeometrie ist, macht auch der Vergleich mit dem Matterhorn keinen Sinn, denn der höchste Punkt des Matterhorns wird wohl kaum eine Ausdehnung im nm-Bereich haben.
--91.65.92.85 14:05, 7. Mai 2013 (CEST)
Atome haben AUF KEINEN FALL einen Duchrmesser von 100 µm. Das haben dicke Haare. (nicht signierter Beitrag von 84.157.205.123 (Diskussion | Beiträge) 23:29, 17. Jan. 2010 (CET))
- Steht ja auch nirgends. Da stand pm - also Picometer, nicht µm. Ich hab es jetzt mal ausgeschrieben. -- d65sag's mir 13:10, 18. Jan. 2010 (CET)
Raster-Kelvin[Quelltext bearbeiten]
Es fehlt in der Liste die Raster-Kelvin-Probe. Gibt auch einen eigenen Wiki-Artikel dazu. (nicht signierter Beitrag von 77.8.169.30 (Diskussion) 14:05, 28. Feb. 2012 (CET))
Exponentiell[Quelltext bearbeiten]
Unter Funktionsweise steht (als Erläuterung zu der hohen Auflösung vieler Rastersondenmikroskope), dass die Wechselwirkungen zwischen Spitze und Probe exponentiell mit dem Abstand abnehmen. Dies ist so im Allgemeinen nicht richtig, es kommt auf die Art der Wechselwirkung an: Elektrostatische (EFM), magnetische (MFM) und Van-der-Waals-Kräfte (AFM) z.B. verhalten sich meines Wissens nach Potenzgesetzen (~ r-3 für die ersten beiden, ~ r-6 für letztere). ...Habe aber momentan keine bessere Formulierung parat. Bis auf das "exponentiell" als allgemeingültige Aussage stimmt die Argumentation ja. --79.243.243.119 23:56, 23. Mai 2016 (CEST)