Diskussion:Reflektometrische Interferenzspektroskopie
Thematische Überschneidung[Quelltext bearbeiten]
Wirklich geht es in den Seiten "Reflektometrische Interferenzspektroskopie" und "Reflektometrische Dünnschichtmessung" um dieselbe Theme: Interferenzerscheinungen an Dünnschichten. Zu diesen Themengebiet kann man die Fresnelsche Formeln, Interferenzfilters u.a. zählen. Es gibt aber verschiedene Seiten über der sogenannten Thematik. Ich meine, es ist nicht unbedingt die Seiten zu vereinigen. Beide Mess und Analyseverfahren beruhen auf derselber physischen Erscheinung, aber die Seiten schildern verschiedene Anwendungen:
- 1. Messverfahren, daß n und d bestimmt (und hier kann man auch Weiteres in der Artikel hinzufügen),
- 2. Analyseverfahren, daß die Oberflächeneigenschaften der Substrate und Beschichtungseigenschaften des aufgelagerten Stoffs (zum Beispiel Beschichtungsrate) forschen können.
Von meiner professionelen Erfahrung weiß ich auch andere Verwendungen der Interferenz an Dünnschichten, aber man braucht nicht, es ist nicht notwendig, meine ich, alles in einer Seite zu erfassen. MGF --EK! 16:37, 25. Nov. 2010 (CET)
- Die Diskussion dazu befindet sich unter Wikipedia:Redundanz/September_2010#Reflektometrische_Interferenzspektroskopie_-_Reflektometrische_Dünnschichtmessung. Bitte dort die Redundanz diskutieren. (siehe Hinweisbox im Artikel) --Cepheiden 20:39, 25. Nov. 2010 (CET)
- Die Diskussion hat seit 2010 nicht mehr stattgefunden. Im anderen Artikel hat sich auch niemand beschwert, dass der Baustein weg ist. Bitte auch um Durchschau des Artikels Reflektometrische Dünnschichtmessung und ggf um Sichtung. Lg Galaktico (Diskussion) 19:25, 9. Okt. 2017 (CEST)